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岱美中國上海、北京、東莞 - 2008年第2、3季度聯系攬進大單
發布時間：2008-06-30
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岱美連續拿到FILMETRICS膜厚測試儀的數個采購訂單，成玏為制造商打開中國優異制造業市場，確立岱美在高科技設備供貨商的地位。
美國FILMETRICS公司生產的膜厚測試儀是一種利用光譜反射的原理，透過測量平滑、半透明或透明薄膜厚度及其反射率、折射率等光學參數(n&k)，進行無損測量的工具。應用范圍包括光阻、半導體材料、高分子材料、太陽能材料、液晶面板和光學材料等薄膜層的厚度測量。測量薄膜的厚度在30?to450μm 之間，光譜測量范圍從近紅外到紫外線，波長范圍在200nm to 1700nm之間，測量精度高達1?，測量穩定性高達0.7?，測量時間只需1、2秒，擁有超高性價比。并有自動機型可選。
岱美高效率的銷售團隊于2008年第2、3季在中國地區迅速完成數個采購FILMETRICS膜厚測試儀的訂單。客戶分別為:
(以上系統巳于2008年第2季安裝及驗收或2008年第3季交貨及安裝)1. 中國最 早，規模最 大，技術最 先進的高精度掩膜版的高新技術企業
2. 專業生產數字視頻設備的廠商
3. 全球前十大半導體硅晶圓材料供貨商
美國FILMETRICS公司生產的膜厚測試儀是一種利用光譜反射的原理，透過測量平滑、半透明或透明薄膜厚度及其反射率、折射率等光學參數(n&k)，進行無損測量的工具。應用范圍包括光阻、半導體材料、高分子材料、太陽能材料、液晶面板和光學材料等薄膜層的厚度測量。測量薄膜的厚度在30?to450μm 之間，光譜測量范圍從近紅外到紫外線，波長范圍在200nm to 1700nm之間，測量精度高達1?，測量穩定性高達0.7?，測量時間只需1、2秒，擁有超高性價比。并有自動機型可選。
除了售后服務及技術、應用支持外，岱美于香港及上海擁有倉庫，為客戶貯備配件。
滬公網安備 31011502016664號
唐女士-華南、西南