岱美中國的Filmetrics膜厚測量樣機(jī)

發(fā)布時間：2020-06-23

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作為美國Filmetrics膜厚測量儀的正式授權(quán)經(jīng)銷商，岱美中國同事不斷地在銷售與技術(shù)支持方面提升，而且目前擁有F20-EXR，F(xiàn)20-UV X,F50，aRTie(F2-RT)及F10-ARc樣機(jī)。我們的樣機(jī)可為客戶提供以下服務(wù)：

1. 免費(fèi)幫客戶進(jìn)行各種樣品測量；

2. 免費(fèi)為客戶進(jìn)行樣品測量演示；

3. 免費(fèi)提供給客戶試用（按具體情況）；

4. 免費(fèi)借用給經(jīng)岱美中國購買過設(shè)備的用戶（按具體情況）；

5. 有償為客戶進(jìn)行批量樣品測量（按具體情況）。

樣品家簇：

使用F20上等頻譜反射測量系統(tǒng)，我們能輕松的實(shí)現(xiàn)對膜層厚度和光學(xué)常數(shù)(n和k值)的測量。通過對膜層頂部、底部反射光譜進(jìn)行分析，數(shù)秒內(nèi)我們即可得到膜層的厚度、折射率和消光系數(shù)。

F20 – 經(jīng)典及熱賣型號，國內(nèi)裝機(jī)超過百套

F20-EXR – 在F20的基礎(chǔ)上，從可見光波段增加到近紅外波段，適合更厚薄膜樣品的測量，給客戶更大的使用彈性

F20-UV X – 在F20的基礎(chǔ)上，在可見光波段的基礎(chǔ)上不僅增加了近紅外波段還增加了紫外波段，波段從200nm 到1700nm，幾乎涵蓋了從極薄樣品到極厚樣品的測量

F50 自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)

透過F50先進(jìn)光譜測量系統(tǒng)，用戶能簡單快速地獲得待測薄膜之厚度分布及光學(xué)參數(shù)。采用r-θ極坐標(biāo)移動平臺，從定位測量點(diǎn)位到完成測量，只需要幾秒鐘的時間。依不同地需求，用戶能繪制適合之點(diǎn)位地圖。除了通用的極坐標(biāo)式、矩形式、及線性式點(diǎn)位地圖供選擇，也可依需求自行繪制。整個系統(tǒng)僅需幾分鐘即可完成安裝，您只需具備基本的電腦技能就可以熟練使用。