FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導體以及介電材料超厚層的專用設備。 藉由先進的光學器件，FR-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。

典型應用包括：厚玻璃的厚度測量（厚度可達 2 毫米，透明或霧面）晶圓厚度測量（例如直徑達 12 英寸的單面或雙面拋光晶圓）。

FR-Ultra可以很容易地與笛卡爾坐標系和極坐標結合，用于大面積的厚度測量。

硅片厚度分布圖（12英寸）

特點：

o 單擊分析（無需輸入初始預估值）

o 動態測量

o 內建700種以上不同材料

o 可安裝多個離線分析軟件

o 免費軟件更新