同步測量薄膜的反射率/穿透率

不需要費時改變硬件配置，F(xiàn)10-RT僅需要透過單擊滑鼠就能夠同時收集反射與透射光譜，不到一秒鐘的時間，陣列的光譜儀就可以快速的收集到資料。另外，F(xiàn)ilmetrics專利的AutoBaseline設(shè)計可以減少十倍以上的基準矯正的參數(shù)讀取時時間。

分析優(yōu)點

F10-RT使Filmetrics的分析能力實現(xiàn)了同步測量反射率與穿透率。只要立即的點擊滑鼠就能夠產(chǎn)生在客戶指定波長范圍內(nèi)，得出最大與最小的反射率與穿透率。系統(tǒng)內(nèi)置邊緣檢測分析與FWHM分析，以及能展現(xiàn)于常見的空間色彩系統(tǒng)的色彩分析(例如: CIELAB與CIEXYZ)。而測量光譜與其他的數(shù)據(jù)能夠很容易的透過打印與導(dǎo)出或以JPEG圖片形式來傳送。同時， 選配的膜厚和參數(shù)解算模塊使F10-RT具有與Filmetrics F20相同多層薄膜分析能力。

健全、可靠的集成

F10-RT運送抵達時具有完整的標準配備，小巧的機身與USB接口保證使您容易安裝。整機無任何運動件，除鎢鹵素?zé)敉鉄o需其他維護，確保設(shè)備高度可靠。